什么是X射線衍射分析法？

更新時(shí)間：2020-12-10

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　　X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。

　　X射線衍射儀特點(diǎn)：

　　1.硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要

　　2.高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果

　　3.高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度

　　4.程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀

　　X射線衍射儀應(yīng)用：

　　1.是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器：

　　2.未知樣品中一種和多種物相鑒定

　　3.混合樣品中已知相定量分析

　　4.晶體結(jié)構(gòu)解析

　　5.非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件下)

　　6.材料表面膜分析